タイムドメインOCTは主にマイケルソン干渉計で構成されています。光源から発せられた光は、カプラーを通過した後に 2 つのビームに分割され、マイケルソン干渉計のサンプル アームと参照アームにそれぞれ入射します。サンプル光はサンプルの散乱と反射によって戻され、参照光は参照ミラーによって反射されます。戻ってきた 2 つのビームの光路差がコヒーレンス長の範囲内にある場合、干渉が発生して、サンプル情報を運ぶ干渉スペクトルが形成されることがあります。光信号は受信側の光検出器を介して電気信号に変換され、その後データ収集カードによって収集され、最終的にコンピュータによって処理および画像再構成されてサンプルの断層撮影が行われます。
当社は、OCTに使用される850nmスーパールミネセントダイオードレーザーまたはモジュール、850nm 2X2ファイバカプラ、830nm偏波独立型アイソレータ、850nm Cレンズ、850nm 3リング偏波コントローラを提供しています。
タイムドメインOCTのシステム構成図:
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